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扫描电镜测试方法
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。扫描电镜测试方法是一种表征材料微观结构的方法,它可以在不破坏样品的情况下,对材料进行高分辨率的三维成像和分析。扫描电镜技术广泛...
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扫描电镜的原理及应用视频教程
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电镜(Scanning...
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透射电镜照片上呈黑色的部位叫什么
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜(Transmis...
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电镜负染步骤
电镜负染是一种广泛用于研究微小物体的显微镜观察技术。在这种技术中,样品被置于电场中,然后使用染色剂进行染色。这个过程中,样品的电子会被激发,然后回到基态,产生一个电子图像。本文将介绍电镜负染的步骤。1...
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透射电镜染色的原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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透射电镜暗场
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜暗场是一种在电子显...
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透射电镜制备薄膜样品时,厚度越小越好
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。透射电镜是一种表征材料电子显微结构的重要工具。在制备薄膜样品时,厚度是一个关键因素,因为薄膜的厚度直接影响其电子显微结构。本文...
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集成电路设计与集成系统专业就业怎么样
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。集成电路设计与集成系统(ICDesignandIntegrationSystem,简称ICIS)是现代电子工程中的一个重要领域...
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透射电镜的实验报告
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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透射电镜测试制样图
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜测试制样图是一种表...
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